产品特点及性能参数:产品通用程度高,只要换IC限位框,即可测试所有内存IC(宽度12MM);有球无球均可测试(只需更换上盖的IC压板);采用手动翻盖式结构,操作方便;上盖的IC压板采用摆动式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;高精度的定位槽,保证IC定位精确,测试效率高;测试准确性高,大大减少误判率;采用进口双头针,探针可更换,维修方便,成本低; 绝缘材料:Torlon、PEI、PEEK,限位框铝合金材料制作;测试频率可达1066M Hz;测试寿命长,有效测试10万次以上;内存条测试治具测试规格:DDR2X8一次性可测试8颗内存颗粒;可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具可以免费提供相关的技术支持。产品服务:※半年免费保修(人为损坏除外)。※保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费。※可以免费提供相关的技术支持。
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